品名:

x射线荧光镀层厚度测量仪sft-110

型号：

sft-110

概要：

1.即放即测！ 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！ 3.可无标样测量！ 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！

特长：

［sft-110的主要特征］

1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。

2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度

3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜fp法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。

4. 广域观察系统（选配） 可从大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。

5. 对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。

6. 低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

产品规格

检测器 比例计数管 

x射线源 空冷式小型x射线管 

准直器 0.1、0.2mmφ2种 

样品观察 ccd摄像头 

样品台移动量 250（x）×200（y）mm 

样品大高度 150mm